论文集成电路兼容联合测试系统是适合不知如何写集成电路方面的相关专业大学硕士和本科毕业论文以及关于集成电路论文开题报告范文和相关职称论文写作参考文献资料下载。
摘 要：本文介绍了一种针对集成电路产品进行品质检验的测试系统.该测试系统包括待测装置、联合測试（JTAG）接口,以及扫描链电路.扫描链电路包含多个扫描链,且耦接至待测装置以及联合测试接口,其中每一扫描链包括多个扫描D型触发器.电子装置耦接联合测试行动小接口,以对待测装置进行测试.该方法适用性强,结果可靠.
关键词：集成电路；测试；兼容联合；系统
DOI：10.16640/j.cnki.37-1222/t.2017.24.103
1 引言
在集成电路（IC））制造工艺里,皆存在着去伪存真的需要,所以需要使用集成电路自动测试系统（Automatic Test System）检测集成电路功能的完整性,筛选残次品,防止进入下道工序,确保集成电路生产制造品质,减少冗余的制造费用[1].
集成电路自动测试系统的功能之一是进行扫描测试（Scan testing）,扫描测试是一种在集成电路上配置扫描链（scan chain）检测集成电路内部逻辑关系的测试方法,例如检测集成电路内部是否存在短路、开路、延迟等.
然而,集成电路自动测试系统极其复杂昂贵且需要在固定场地与测试环境使用专用计算机,因此在需要进行扫描测试的待测集成电路较多的情况下,影响集成电路设计生产周期[2],因此需要开发一种能够兼容但不完全依赖集成电路自动测试系统的扫描测试功能的另一扫描测试系统.
2 测试方法
有鉴于上述问题,开发一种兼容联合测试（JTAG）接口进行集成电路扫描测试的测试系统显得非常有必要.该测试系统可以兼容联合测试模式和集成电路自动测试模式,该测试系统包括处理器,接口转换器,以及电路板,其中处理器通过接口转换器与电路板实现数据交换.该电路板包括联合测试接口,集成电路自动测试系统接口,第一寄存链电路,第二寄存链电路,待测集成电路；以及扫描链电路.
2.1 联合测试
当该测试系统处于联合测试模式,电路板包括的第一寄存链电路选择来自联合测试接口的数据,输出至上述扫描链电路和上述待测集成电路,以及电路板包括的第二寄存链电路,也将自扫描链电路获得的测试数据向联合测试接口输出.
2.2 自动扫描测试
当该测试系统处于集成电路自动测试模式,该第一寄存链电路选择从集成电路自动测试系统接口接收数据,输出至上述扫描链电路和上述待测集成电路,以及第二寄存链电路也向集成电路自动测试系统接口输出第二数据.
2.3 结果判断
（1）当处理器接收扫描测试结果,判断待测集成电路内部是否有故障点,当处理器判断待测集成电路没有故障点,判断待测集成电路为合格电路.
（2）当处理器判断待测集成电路有故障点,判断待测集成电路为故障电路,处理器根据扫描测试结果溯源至待测集成电路,生成一模型,并标注故障点位置,以便用户决定是否修理.
3 系统搭建
处理器通过接口转换器连接于电路板,向JTAG接口写入数据Data,JTAG接口分别连接至第一寄存链电路以及第二寄存链电路,向第一寄存链电路输出数据TDI,并自第二寄存链电路读取数据TDO.第一寄存链电路连接于待测集成电路,向待测集成电路输出模式控制信号MCtr,该模式控制信号MCtr用于控制待测集成电路在需要的模式下.第一寄存链电路连接于扫描链电路,向扫描链电路输出时钟信号Gclk和初始化信号Rst.该第一寄存链电路还连接于第二寄存链电路,向第二寄存链电路灌入数据TDI促使第二寄存链电路输出信号TDO.扫描链电路分别连接于待测集成电路,第二寄存链电路,以及第一寄存链电路.扫描链电路接收第一寄存链电路传过来的数据,在第一寄存链电路传过来的数据催动下读取待测集成电路内部逻辑关系,并将测试结果SData1-SDataM输出至第二JTAG寄存链电路.此时,第一寄存链电路向第二寄存链电路灌入数据TDI促使第二寄存链电路不断输出测试结果TDO至JTAG接口.
对待测集成电路进行扫描测试时,处理器通过接口转换器向JTAG接口传送的数据Data包括了测试模式选择信号TMS、测试时钟信号TCK、测试重置信号TRST,以及测试数据输入信号TDI.JTAG接口接收数据Data,并将数据Data中的测试数据输入信号TDI分配至第一寄存链电路,输入信号TDI内还包含了模式控制信号MCtr、时钟信号Gclk和初始化信号Rst,对待测集成电路以及扫描链电路进行设置及初始化.输入信号TDI内还包含了其他数据,催动扫描链电路读取待测集成电路的内部逻辑关系,并向第二JTAG寄存链电路传输扫描测试结果SData1-SDataM.第二JTAG寄存链电路将扫描测试结果SData1-SDataM顺序排列,并输出信号TDO至JTAG接口,在JTAG接口内部处理成最终输出信号TDOL,该最终输出信号TDOL再通过接口传至处理器.
4 小结
综上,本文所提出的测试系统,兼有ATE测试与JTAG测试两种模式,适应面更广.用户可以在待测集成电路较多或较大的时候,通过处理器,例如个人计算机,在任何地方直接对待测集成电路进行扫描测试,并利用生成的模型直观判断待测集成电路的状态.用户也可以在待测集成电路较少或较小的时候,直接使用ATE测试系统完成对待测集成电路的全功能测试.
参考文献：
[1]祝雪菲.集成电路低功耗扫描测试方法的研究与应用[D].北京工业大学,2015.
[2]吴春蕾.集成电路失效分析中缺陷快速精确定位技术及实验研究[D].天津大学,2015.
作者简介：沈冬梅（1985-）,女,江苏徐州人,本科,助理工程师,从事微波射频方面的研究.
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参考文献：
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